Dostawa spektrometru GD-OES do analizy warstw – Warszawa

Zamówienie obejmuje dostawę kompletnego, fabrycznie nowego systemu spektrometrii optycznej emisji z wyładowaniem jarzeniowym (GD-OES) do analizy ilościowej i profilowej warstw, wraz ze stacją roboczą, akcesoriami, kalibracjami, szkoleniem i dokumentacją.

• Część 1 (dostawa + montaż + wdrożenie): kompletny spektrometr GD-OES (urządzenie główne, źródło wyładowania RF, komora pomiarowa, układ optyczno-detekcyjny VUV/UV, układ próżniowo-gazowy, chłodzenie, oprogramowanie sterujące i analityczne), komputer sterujący (≥32", SSD ≥4 TB, Wi-Fi), zestawy kalibracyjne do analizy objętościowej i profilowej, akcesoria (anody, apertury, elementy formujące obszar analizy, pęsety, pojemniki na próbki), wyposażenie laboratorium (2 stoły, 2 szafki, 2 krzesła, 3 eksykatory próżniowe ≥40 l, each ≤1 Torr, utrzymanie ≥72 h)
• Część 2 (usługa): instalacja, uruchomienie, pomiary odbiorcze, szkolenie dla 3 użytkowników, instrukcje obsługi/biznesowej bezpieczeństwa/serwisu i dokumentacja oprogramowania w j. pol. lub ang.
• Gwarancja ≥12 mies., serwis PL/EN, czas reakcji ≤72 h, dostępność części ≥5 lat.