Zestaw stanowiska pomiarowego Probe Station – Warszawa

• Dostawa: 1 zestaw stanowiska pomiarowego Probe Station do precyzyjnych pomiarów elektrycznych, optoelektronicznych i światłowodowych elementów półprzewodnikowych (struktury epitaksjalne, przyrządy fotoniczne/optoelektroniczne) z dostępem do obu stron próbki (double-side probing).

Specjalistyczne stanowisko pomiarowe do pomiarów na poziomie krzemowych struktur epitaksjalnych i układów fotonicznych, wymagające precyzyjnej integracji mechanicznej i kalibracji pomiarowej.

Sygnały, na które warto zwrócić uwagę przed startem.

Brak istotnych sygnałów ostrzegawczych.

Wyodrębnione z wyjaśnień treści SWZ.

Zamawiający nie opublikował pytań ani odpowiedzi