preparatyka lamel i pomiary STEM – Ożarów Mazowiecki

Kto wygrał, za ile i ilu było chętnych.

• Usługa (jednoczęściowa): preparatyka lamel (FIB) oraz pomiary 8 próbek – struktur epitaksjalnych III-V (SL InAs/InAsSb).
• Technika: STEM/DF TEM, obrazowanie g002 w trybie dwuwiązkowym dla blendy cynkowej.
• Analiza: określenie grubości okresu i profilu antymonu w przełomie struktury.
• Wynik: raport z obrazami dostarczany przez Wykonawcę.

Zamówienie obejmuje specjalistyczną preparatykę lamel FIB oraz pomiary TEM/DF TEM w specyficznych warunkach dwuwiązkowych dla materiałów półprzewodnikowych III-V, wymagającą zaawansowanej wiedzy i doświadczenia w nanometrologii.

Sygnały, na które warto zwrócić uwagę przed startem.

Brak istotnych sygnałów ostrzegawczych.

• Kara umowna za opóźnienie: 0,1% Wynagrodzenia netto za każdy dzień, max 5%.
• Kara za odstąpienie od umowy (nienależyte wykonanie): 5% Wynagrodzenia netto.

Wyodrębnione z wyjaśnień treści SWZ.

Zamawiający nie opublikował pytań ani odpowiedzi