Przetargowy JanuszPlatforma Inteligencji Przetargowej

Wypróbuj 14 dni

Ładowanie…

Archiwum TEDCPV 38000000 · Sprzęt laboratoryjny i optyczny Wielkopolskie

Zakup transmisyjnego mikroskopu elektronowego wysokiej rozdzielczości z wyposażeniem i

Pełna nazwa postępowania: AD/ZP/64/26 Zakup transmisyjnego mikroskopu elektronowego wysokiej rozdzielczości z wyposażeniem i szkoleniem dla Politechniki Poznańskiej

Politechnika Poznańska·NIP 7770003699·Poznań

Wartość szac.

—

nie podano

Termin składania

30.07.2026

postępowanie zakończone

Otwarcie ofert

—

nie podano

Opublikowano

24 czerwca 2026

źródło: TED

Streszczenie SWZ

Streszczenie AI · Janusz

Widzisz połowę każdej z 10 sekcjiDruga połowa — łącznie 26 zdań z warunkami, dokumentami i analizą ryzyka — odsłania się po założeniu darmowego konta.

Odsłoń całość

1

Identyfikacja postępowania

Widoczne 50%

Postępowanie o udzielenie zamówienia publicznego prowadzone jest w trybie przetargu nieograniczonego pod numerem referencyjnym AD/ZP/64/26. Przedmiotem zamówienia są dostawy (zakup transmisyjnego mikroskopu elektronowego wysokiej rozdzielczości z wyposażeniem i szkoleniem). (+ 2 zdania — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

2

Zamawiający

Widoczne 50%

Zamawiającym jest Politechnika Poznańska, z siedzibą przy ul. Jacka Rychlewskiego 1, 61-131 Poznań, o numerze NIP 777-00-03-699 oraz REGON 000001608. Kontakt w sprawach związanych z postępowaniem:

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

3

Tryb zamówienia

Widoczne 50%

Postępowanie prowadzone jest w trybie przetargu nieograniczonego na podstawie art. 129 ust. 1 pkt 1 w związku z art. 129 ust. 2 oraz art. 132–139 ustawy Prawo zamówień publicznych (PZP). (+ 5 zdań — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

4

Budżet i wartość

Widoczne 50%

Zamawiający nie podał w treści SWZ wartości szacunkowej zamówienia ani budżetu przeznaczonego na jego realizację. Finansowanie zamówienia pochodzi z projektu FENG.02.04-IP.04-0007/24 pt. „NSMET – Narodowa Sieć Metrologii Współrzędnościowej – rozszerzenie możliwości w zakresie pomiarów ultraprecyzyjnych i in-process metrology”. (+ 2 zdania — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

5

Terminy

Widoczne 50%

Termin składania ofert: 30.07.2026 r. do godz. 09:00.
Termin otwarcia ofert: 30.07.2026 r. o godz. 10:00.
Termin związania ofertą: 90 dni od dnia upływu terminu składania ofert (do 27.10.2026 r.).
(+ 2 pozycje — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

6

Warunki udziału

Widoczne 50%

Zamawiający nie stawia żadnych szczególnych wymagań w zakresie:

Zdolności do występowania w obrocie gospodarczym.
Uprawnień do prowadzenia określonej działalności gospodarczej lub zawodowej.
(+ 2 pozycje — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

7

Kryteria oceny ofert

Widoczne 50%

Zamawiający dokona oceny ofert w oparciu o następujące kryteria:

Cena (C) – waga 60%
Mikroskop transmisyjny – Minimum cztery niezależne detektory EDS w technologii SDD umieszczone wewnątrz soczewki obiektywowej, chronione przesłonami i rozmieszczone symetrycznie względem próbki (A) – waga 20%
(+ 3 pozycje — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

8

Kary i sankcje

Widoczne 50%

Kary umowne: w projekcie umowy (załącznik nr 6)
Wadium: nie wymagano
(+ 1 pozycja — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

9

Inne zapisy

Widoczne 50%

Realizacja zamówienia:

Czas realizacji: Maksymalny termin to 12 miesięcy od dnia zawarcia umowy (s. 6).
Gwarancja: Wymagana minimum 5-letnia gwarancja (s. OPZ, s. 1).
Podwykonawstwo: Wykonawca może powierzyć realizację części zamówienia podwykonawcom. Wymagane jest wskazanie zakresu podwykonawstwa oraz firm podwykonawców w Formularzu ofertowym (s. 13, 41). Zmiany umowy:
(+ 5 pozycji — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

10

Dokumenty

Widoczne 50%

Formularz oferty (Załącznik nr 1)\n- Oświadczenie Wykonawcy (ESPD/JEDZ) (Załącznik nr 2.2)\n- Oświadczenie Wykonawcy dotyczące przesłanek wykluczenia z art. 5k rozporządzenia 833/2014 oraz art. (+ 2 zdania — pełna treść po zalogowaniu)

Odsłoń pełną treść — załóż darmowe konto

Druga połowa streszczenia za darmo

Odsłoń całe streszczenie SWZ

Z każdej z 10 sekcji pokazujemy połowę. Załóż darmowe konto, żeby odsłonić pozostałe 26 zdań — pełne warunki udziału, dokumenty i analizę ryzyka Janusza. Bez karty, 14 dni za darmo.

Pełne warunki udziału i progi doświadczenia

Komplet wymaganych dokumentów ofertowych

Analiza sygnałów ostrzegawczych Janusza

Monitoring pytań i odpowiedzi na bieżąco

Załóż darmowe konto Mam już konto

14 dni za darmo Bez karty płatniczej Rezygnacja w 1 klik

Opis przedmiotu zamówienia

Streszczenie AI · Janusz

Zakup, dostawa, instalacja i uruchomienie zintegrowanego systemu mikroskopu skaningowego (SEM/FIB), obejmującego: kolumnę elektronową i jonową, zestaw detektorów (w tym EDS, STEM, detektory elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych), mikromanipulator, system lokalnego podawania gazów (GIS), zintegrowane urządzenie do czyszczenia plazmowego, układ chłodzenia oraz zasilanie awaryjne (UPS). Zamówienie zawiera również pakiet oprogramowania sterującego i analitycznego, szkolenie dla min. 5 osób, 5-letnią gwarancję oraz usługę przeniesienia urządzenia do innego budynku w okresie gwarancyjnym.

Pytania i odpowiedzi

Wyjaśnienia treści SWZ udzielone przez zamawiającego. Odpowiedzi wiążą wszystkich wykonawców — także tych, którzy nie zadali pytania.

Zwracamy się z prośbą o załączenie OPZ dotyczącego przedmiotu postępowania, czyli zakupu transmisyjnego mikroskopu elektronowego wysokiej rozdzielczości z wyposażeniem i szkoleniem. Załączony w dokumentacji załącznik nr 7 do SWZ dotyczy tylko mikroskopu skaningowego SEM/FIB. Z?

Zamawiający udostępnia na stronie prowadzonego postępowania zaktualizowany – właściwy Załącznik nr 7 do SWZ zawierający pełen opis przedmiotu zamówienia.

PYTANIE 1: 300kV mikroskop TEM może, według naszej wiedzy, na ternie Polski dostarczyć tylko 2 producentów mikroskopów elektronowych. Powyższy zapis jest możliwy do spełnienia tylko przez jednego producenta. W ramach umożliwienia uczciwej konkurencji prosimy o zmianę zapisu na: Zakres napięć przyspieszających mikroskopu minimum od 40 kV do 300 kV. Argumentacja: Zamawiający wymaga, aby mikroskop był fabrycznie wyjustowany w napięciach 300 kV, 200 kV i 60 kV, w takiej sytuacji nie ma znaczenia czy zakres napięć przyspieszjących mikroskopu rozpoczyna się od 30 czy od 40 kV, jest to zapis mający na celu jedynie nieuczciwe zamknięcie postępowania dla jednego producenta. Część: Mikroskop skaningowy SEM/FIB Punkt 12: Precyzyjny stolik próbki o zmotoryzowanych przesuwach w 5 osiach. Zakresy przesuwów: a. w osi: X i Y: minimum 110 mm, b. w osi Z: minimum 65 mm, c. obrót wokół osi R w zakresie 360° dla wszystkich położeń X, Y, d. pochył: minimum od -15° do +90°.

Zamawiający nie wyraża zgody na proponowaną zmianę. Wymóg dotyczący możliwości pracy mikroskopu przy napięciu przyspieszającym 30 kV wynika wyłącznie z potrzeb badawczych Zamawiającego. Laboratorium będzie prowadziło badania bardzo szerokiej grupy materiałów, zarówno obecnie badanych, jak i materiałów, które pojawią się w przyszłych projektach badawczych. Niższe napięcia przyspieszające pozwalają ograniczyć uszkodzenia indukowane wiązką elektronową (knock-on damage) w przypadku materiałów wrażliwych. Ponadto obniżenie napięcia przyspieszającego poprawia kontrast obrazowania materiałów zbudowanych z pierwiastków o niskiej liczbie atomowej. Wszystkie wymienione grupy materiałów znajdują się w obszarze zainteresowań badawczych Zamawiającego. Na pozór niewielki wzrost napięcia z 30 kV do 40 kV oznacza w rzeczywistości wzrost energii elektronów o 33%, co może prowadzić do istotnych zmian mechanizmów oddziaływania wiązki z materiałem oraz pogorszenia możliwości prowadzenia badań próbek szczególnie wrażliwych na wiązkę elektronową. Ponadto obniżanie energii elektronów stanowi jeden z wyraźnych kierunków rozwoju współczesnej mikroskopii elektronowej i umożliwia prowadzenie badań, które przy wyższych energiach nie byłyby możliwe lub wiązałyby się z istotnie większym ryzykiem uszkodzenia próbek. Przykładem są prace dotyczące generowania i badania defektów w materiałach dwuwymiarowych z wykorzystaniem niskich napięć przyspieszających (np. Nano Letters, 2020, DOI: 10.1021/acs.nanolett.0c00670). Możliwość pracy przy napięciu 30 kV zwiększa zatem istotnie zakres zastosowań zamawianej aparatury zarówno w obecnie realizowanych, jak i przyszłych projektach badawczych. Rezygnacja z takiej możliwości wiązałaby się z ryzykiem utraty części potencjału badawczego aparatury, ograniczając możliwość realizacji wybranych, aktualnie intensywnie rozwijanych kierunków badań w obszarze nowoczesnych materiałów. Fakt, że mikroskop ma być fabrycznie justowany dla napięć 300 kV, 200 kV i 60 kV, nie ogranicza potrzeby zapewnienia możliwości pracy również przy 30 kV. Są to dwa niezależne wymagania dotyczące odpowiednio kalibracji instrumentu oraz funkcjonalności mikroskopu. W związku z powyższym Zamawiający podtrzymuje wymaganie dotyczące zakresu napięć przyspieszających od 30 kV do 300 kV.

PYTANIE 2: Aby umożliwić uczciwą konkurencję, prosimy a niewielkie zmiany wymagań, nie mające większego wpływu na komfort pracy użytkownika: Precyzyjny stolik próbki o zmotoryzowanych przesuwach w 5 osiach. Zakresy przesuwów: a. w osi: X i Y: minimum 100 mm, b. w osi Z: minimum 50 mm, c. obrót wokół osi R w zakresie 360° dla wszystkich położeń X, Y, d. pochył: minimum od -4° do +70°

Duży zakres ruchu stolika próbki zwiększa uniwersalność systemu, umożliwiając zarówno badanie większych próbek, jak również realizację większej liczby geometrii ustawienia próbki. Ma to istotne znaczenie m.in. w przypadku przygotowania nietypowych lameli metodą FIB oraz transferu lameli na chipy MEMS, gdzie elastyczność pozycjonowania próbki i chipa może mieć bezpośredni wpływ na możliwość realizacji procesu. Przeprowadzone przez Zamawiającego rozeznanie rynku wskazuje, że istnieją dostępne komercyjnie mikroskopy SEM/FIB wyposażone w stoliki próbki oferujące zakresy ruchu równe lub większe od wymaganych w Specyfikacji Warunków Zamówienia. W związku z powyższym Zamawiający podtrzymuje wymagania dotyczące zakresów ruchu stolika próbki określone w punkcie 12