Zakup transmisyjnego mikroskopu elektronowego wysokiej rozdzielczości z wyposażeniem i

Zamawiający udostępnia na stronie prowadzonego postępowania zaktualizowany – właściwy Załącznik nr 7 do SWZ zawierający pełen opis przedmiotu zamówienia.

Zamawiający nie wyraża zgody na proponowaną zmianę. Wymóg dotyczący możliwości pracy mikroskopu przy napięciu przyspieszającym 30 kV wynika wyłącznie z potrzeb badawczych Zamawiającego. Laboratorium będzie prowadziło badania bardzo szerokiej grupy materiałów, zarówno obecnie badanych, jak i materiałów, które pojawią się w przyszłych projektach badawczych. Niższe napięcia przyspieszające pozwalają ograniczyć uszkodzenia indukowane wiązką elektronową (knock-on damage) w przypadku materiałów wrażliwych. Ponadto obniżenie napięcia przyspieszającego poprawia kontrast obrazowania materiałów zbudowanych z pierwiastków o niskiej liczbie atomowej. Wszystkie wymienione grupy materiałów znajdują się w obszarze zainteresowań badawczych Zamawiającego. Na pozór niewielki wzrost napięcia z 30 kV do 40 kV oznacza w rzeczywistości wzrost energii elektronów o 33%, co może prowadzić do istotnych zmian mechanizmów oddziaływania wiązki z materiałem oraz pogorszenia możliwości prowadzenia badań próbek szczególnie wrażliwych na wiązkę elektronową. Ponadto obniżanie energii elektronów stanowi jeden z wyraźnych kierunków rozwoju współczesnej mikroskopii elektronowej i umożliwia prowadzenie badań, które przy wyższych energiach nie byłyby możliwe lub wiązałyby się z istotnie większym ryzykiem uszkodzenia próbek. Przykładem są prace dotyczące generowania i badania defektów w materiałach dwuwymiarowych z wykorzystaniem niskich napięć przyspieszających (np. Nano Letters, 2020, DOI: 10.1021/acs.nanolett.0c00670). Możliwość pracy przy napięciu 30 kV zwiększa zatem istotnie zakres zastosowań zamawianej aparatury zarówno w obecnie realizowanych, jak i przyszłych projektach badawczych. Rezygnacja z takiej możliwości wiązałaby się z ryzykiem utraty części potencjału badawczego aparatury, ograniczając możliwość realizacji wybranych, aktualnie intensywnie rozwijanych kierunków badań w obszarze nowoczesnych materiałów. Fakt, że mikroskop ma być fabrycznie justowany dla napięć 300 kV, 200 kV i 60 kV, nie ogranicza potrzeby zapewnienia możliwości pracy również przy 30 kV. Są to dwa niezależne wymagania dotyczące odpowiednio kalibracji instrumentu oraz funkcjonalności mikroskopu. W związku z powyższym Zamawiający podtrzymuje wymaganie dotyczące zakresu napięć przyspieszających od 30 kV do 300 kV.

Duży zakres ruchu stolika próbki zwiększa uniwersalność systemu, umożliwiając zarówno badanie większych próbek, jak również realizację większej liczby geometrii ustawienia próbki. Ma to istotne znaczenie m.in. w przypadku przygotowania nietypowych lameli metodą FIB oraz transferu lameli na chipy MEMS, gdzie elastyczność pozycjonowania próbki i chipa może mieć bezpośredni wpływ na możliwość realizacji procesu. Przeprowadzone przez Zamawiającego rozeznanie rynku wskazuje, że istnieją dostępne komercyjnie mikroskopy SEM/FIB wyposażone w stoliki próbki oferujące zakresy ruchu równe lub większe od wymaganych w Specyfikacji Warunków Zamówienia. W związku z powyższym Zamawiający podtrzymuje wymagania dotyczące zakresów ruchu stolika próbki określone w punkcie 12